Jual Alat Ukur Ketebalan Lapisan NOVOTEST TP-1M Resmi Bergaransi

Alat Ukur Ketebalan Lapisan NOVOTEST TP-1M merupakan sebuah alat untuk operasi pengukuran non-destruktif dari ketebalan lapisan sesuai dengan standart ISO 2808 dengan akurasi pengukuran yang tinggi.

Fitur Alat Ukur Ketebalan Lapisan NOVOTEST TP-1M :

Rentang pengukuran ketebalan besar
Nyaman dan mudah dalam pengoperasian
Anti guncangan
Jumlah minimum kontrol: satu tombol – satu fungsi
Tampilan grafis dengan backlight
Indikasi tipe probe terhubung
Pengendalian baterai
Handal dan mudah digunakan.
Memilih tipe probe melalui satu tombol.
Kecepatan preset ultrasound (USG)
Pemetaan kehadiran kopling akustik pada display grafik.
Menetapkan hasil pengukuran terakhir dalam pemindahan permukaan trandused.

NOVOTEST

Merupakan Perusahaan yang mengembangkan dan memproduksi instrumen untuk pengendalian kualitas non-destruktif. Novotest memproduksi instrumen untuk mengukur berbagai parameter dan kontrol kualitas mayoritas produk: kekerasan logam dari berbagai prinsip tindakan, ketebalan lapisan, detektor ultrasonik cacat, alat pengukur ketebalan ultrasonik, magnetometer, instrumen untuk memantau kualitas bahan konstruksi, peralatan kontrol lingkungan dan perangkat lainnya.

Rentang pengukuran ketebalan (tergantung jenis probe)	0 μm – 60 mm
Dimensi	122x65x23 mm
Kisaran suhu operasi	-5 – 40 ° C
Baterai	2 AAA
Jenis konektor probe	Lemo
Waktu kerja jam kerja terus menerus	20jam
Berat unit elektronik dengan baterai	00.02kg
Spesifikasi probe untuk Coating Thickness Gauge NOVOTEST TP-1M
Pelapis pada baja (dielektrik dan konduktif
pelapis pada logam dan paduan feromagnetik)
Jenis probe	Rentang pengukuran ketebalan lapisan	Ketepatan pengukuran	Dimensi probe, mm
probe F-0,3	0-300 μm	± (3% ± 1 μm)	Ø5×40
probe F-0,5	0-500 μm	± (3% ± 1 μm)	Ø 7×14
probe F-2	0-2000 μm	± (3% ± 2 μm)	Ø 9×35
probe F-5	0-5000 μm	± (3% ± 2 μm)	Ø 18×35
Lapisan pada logam non-magnetik
(Lapisan dielektrik pada logam dan paduan non-ferrous)
probe NF-0,5	0-500 μm	± (3% ± 2 μm)	Ø 12×35
probe NF-2	0-2000 μm	± (3% ± 2 μm)	Ø 12×35
Lapisan tebal pada logam (lapisan dielektrik pada logam)
probe M-12	0-12 mm	± (3% + 0.002 mm)	Ø 15×50
probe M-30	1-30 mm	± (3% + 0.003 mm)	Ø 40×50
probe M-60	1-60 mm	± (3% + 0.005 mm)	Ø 70×60
Pengukuran kekasaran permukaan, Rz
(Setelah abrasif peledakan pra-lukisan kerja)
probe DSH	2-360 μm	± (3% ± 2 μm)	Ø 12×45
Suhu, kelembaban dan titik embun
probe DT	-50 – 125 ° C	+ / – 1 ° C	Ø 15×45
probe DTVR	Kelembaban: 0 – 100%	± 5%	Ø 15×120
	Suhu: -50 – 125 ° C	± 1 ° C
	Titik embun: -15 – 40 ° C	± 2 ° C